徐海涛

作品数：1被引量：1H指数：1
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发文主题：存储器EPROM激活能可靠性评估嵌入式更多>>
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嵌入式EPROM数据保持能力评估方法优化被引量：1
《电子与封装》2011年第1期33-36,共4页徐海涛 王智勇 
高温加速老化测试是半导体存储器产品可靠性评估必经的步骤。其中产品失效激活能的确定对数据保持能力研究有重要意义,它决定了老化可靠性评估的原则。文章首先介绍了可靠性评估原则的确定方法,然后在不同的温度下进行老化测试,利用数...
关键词：存储器 加速因子 可靠性评估 激活能 
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