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检索条件:"关键词=微分模衰减 "
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接入网多光纤链路损耗的测试条件被引量:2
《光纤与电缆及其应用技术》2013年第2期1-3,共3页陈国庆 怀向芳 
基于光纤接入网系统中VCSEL光源近场功率分布以及光传输链路的特点,在多光纤及其器件损耗测试时应考虑相应的注入条件。为此,扼要介绍了包括多光纤及其器件在内的传输链路损耗的测试要求,并进行了相应的分析。
关键词:光纤 微分衰减 注入条件 环光通量 测试 
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