浅谈一种新型的APD/PIN-TIA耦合测试自动控制系统  

作　　者：刘幸[1] 张东霞[1] 臧鹏[1] 

机构地区：[1]空军预警学院,湖北武汉430019

出　　处：《中国科技期刊数据库 工业A》2016年第10期72-73,共2页

摘　　要：随着40G/100G高速光模块大量商用,多通道集成PIN/APD的耦合工艺更加复杂,现有技术很难同时控制多通道的耦合偏差,使得器件性能达不到最佳,出现灵敏度指标偏低的现象。对于集成多路雪崩光电二极管(APD)的器件,由于不同的工作电压下的增益不同,统一的高偏压来耦合,则无法使得每个通道器件耦合最佳,以至于影响整个器件性能。本文设计一种兼容跨阻放大器(TIA)和APD器件耦合测试自动控制系统,能保证多通道器件均能耦合到最佳,从而提高器件成品质量。

关 键 词：跨阻放大器 雪崩光电二极管 自动控制系统 

分 类 号：TN929.1[电子电信—通信与信息系统]