三极管寿命试验和封装防护技术探讨  

作　　者：卫星星 马绪 

机构地区：[1]中国振华集团永光电子有限公司·国营第八七三厂,贵州贵阳550018

出　　处：《中文科技期刊数据库（全文版）工程技术》2021年第9期232-232,共1页

摘　　要：封装技术是确保三极管寿命的关键一环,不同类型三极管封装结构不同,为了适应不同电路设计的场合需要,确保在不同工作环境下,三极管能够稳定工作,不受到外力损害,其封装技术就要不断进行创新。研究针对三极管寿命原理,对于不同封装三极管寿命试验的相关技术进行了介绍,并且提出了封装防护技术确保三极管能够连续工作1000h以上。

关 键 词：三极管 封装 寿命试验台 

分 类 号：TN32[电子电信—物理电子学]