集成电路的多SITE测试  

作　　者：李定学 

机构地区：[1]德律泰上海办事处

出　　处：《集成电路应用》2001年第4期24-25,共2页Application of IC

摘　　要：本文介绍实现多SITE测试的两种方式:软件方式和硬件方式,指出了软件在实际应用中的限制,关举例介绍了硬件方式的多SITE并行测试。

关 键 词：SITE 软件方式 硬件 测试机 并行测试 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]