商用ADSP-21060L总剂量辐照试验与分析  

Test and Analysis for Total Ionizing Dose of COTS ADSP-21060L

作　　者：贾志宏[1] 向宏文[2] 蔡震波[2] 耿立红[1] 孙才红[1] 李怀锋[2] 

机构地区：[1]中国科学院国家天文台 [2]航天科技集团,北京100086

出　　处：《宇航学报》2007年第3期757-761,共5页Journal of Astronautics

摘　　要：空间太阳望远镜(SST)设计采用多片商用数字信号处理器ADSP-21060L组成处理阵列,以完成在轨海量数据处理任务。其中商用ADSP-21060L片内资源丰富、结构复杂,其耐受总剂量辐射的能力是设计的关键指标。提出采用基于工程应用状态下的在线实时监测性能和参数的总剂量辐照试验方法;设计并完成5个样品芯片的总剂量辐照试验。试验结果表明该款芯片在总剂量大于20krad(Si)时功能失效,试验方案可行,试验数据可以作为其它星载计算机的设计参考。In Space Solar Telescope(SST) project,Commercial-Off-the-Shelf(COTS) DSP-ADSP-21060L was adopt to compose the multi-processor array for on-board science data processing.This chip has plenty of in chip resources and complex structure,and its tolerant ability for space radiation is the key of this system.A Total Ionizing Dose(TID) test method to real-time monitor chip functions and electric parameters when it is at work state is presented.The TID test with 5 samples is designed and finished.The test results s...

关 键 词：商用器件 DSP 总剂量效应 

分 类 号：V443[航空宇航科学与技术—飞行器设计]