基于IEEE1149.4标准TAP控制器的设计  

Design of TAP controller based on IEEE1149.4 standard

作　　者：雷加[1] 苏波[1] 

机构地区：[1]桂林电子科技大学,桂林541004

出　　处：《仪器仪表学报》2007年第S1期298-299,318,共3页Chinese Journal of Scientific Instrument

摘　　要：随着电子技术的飞速发展,电路的集成度越来越高,使其测试面临越来越多的问题。目前,可测性设计已成为解决测试问题的主要手段之一,而边界扫描技术是众多可测性设计方法中使用较为广泛的一种。在基于IEEE1149.4标准的混合信号电路的可测性设计中,测试访问口(test access port,TAP)控制器设计的地位比较突出,是非常重要的一环。本文从标准要求出发,对TAP控制采用硬件描述语言加以实现并进行了仿真验证,从仿真结果看该设计是正确可行的。With the rapid development of electronic technology,the integration rate of electric circuit is becoming more and more high,and its test is faced with more and more questions.At present,the technology of design for testability is one of solutions for test,and the boundary scan technology is one of the DFT methods which is widely used,In the design for testability of mixed-singal based on IEEE1149.4 standard,the design of TAP controller,is an extremely important part.This article designs the TAP controller b...

关 键 词：可测性设计 IEEE1149.4标准 TAP控制器 

分 类 号：TP21[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]