一种专用高速ECL移位寄存器电路的设计和测量  

Design and measurement of a special high speed shift register array

作　　者：字宝俊[1] 莫邦燹[1] 倪学文[1] 张利春[1] 张广勤[1] 

机构地区：[1]北京大学微电子所,北京,100871 北京大学微电子所,北京,100871 北京大学微电子所,北京,100871 北京大学微电子所,北京,100871 北京大学微电子所,北京,100871

出　　处：《测试技术学报》2002年第z1期731-735,共5页Journal of Test and Measurement Technology

摘　　要：介绍了由先进的多晶硅发射极NPN晶体管和高速ECL100E141电路单元构成的一块专用高速移位寄存器阵列的设计和主要参数的测量.提出一种移位寄存器最高工作频率的测量方法.该方法有效地消除由外部连线和外接器件及测试夹具所造成的寄生延迟对测试结果的影响,准确地测试出电路的最高工作频率.本电路并行输入输出和移位的最高工作频率为410MHz.该电路是为提高某些测试系统高频测量性能而设计的全功能移位寄存器阵列.其布局和结构合理灵活,可以方便地构成多种数据移位寄存方式,有利于使用和测量,具有一定的通用性.

关 键 词：多晶硅发射极晶体管 ECL移位寄存器 高速测量系统 

分 类 号：TB9-55[一般工业技术—计量学]