提高线阵CCD拼接精度的研究  被引量:4

An investigation into enhancing assembly accuracy of linear array CCD

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作  者:李英才[1] 刘亚南[1] 相宝林[1] 石松令[1] 

机构地区:[1]中国科学院西安光学精密机械研究所,西安,710068 中国科学院西安光学精密机械研究所,西安,710068 中国科学院西安光学精密机械研究所,西安,710068 中国科学院西安光学精密机械研究所,西安,710068

出  处:《测试技术学报》2002年第z1期430-434,共5页Journal of Test and Measurement Technology

摘  要:为了满足空间相机和其它监控、侦察相机高分辨率和宽收容度的要求,目前采用了多片CCD光学拼接技术.本文给出了线阵CCD的拼接模型,说明了CCD光学拼接的原理和方法.强调了拼接前对单片CCD物理特性和几何特性测量和挑选的重要性,以及在此基础上所采用的能显著提高拼接精度的误差压缩和误差分离的拼接方法.

关 键 词:CCD器件 光学拼接 误差压缩 误差分离 

分 类 号:TB9-55[一般工业技术—计量学]

 

参考文献:

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