CCD器件

作品数:169被引量:314H指数:9
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相关作者:刘红元王恒飞应承平王洪超赵振明更多>>
相关机构:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所北京空间机电研究所中国科学院长春理工大学更多>>
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不同偏置下CCD器件γ射线及质子辐射研究被引量:1
《太赫兹科学与电子信息学报》2022年第9期915-921,共7页杨智康 文林 周东 李豫东 冯婕 郭旗 
中科院西部之光计划资助项目(2020-XBQNXZ-004);国家自然科学基金资助项目(12175308);中国科学院青年创新促进会资助项目(20211437)。
电荷耦合器件(CCD)是用于空间光电系统可见光成像的图像传感器,在空间应用环境下受辐射效应作用导致CCD性能退化甚至失效。对于CCD空间辐射效应的地面模拟试验研究,辐照试验中CCD采用合适的偏置条件是分析其空间辐射损伤的必要措施。由...
关键词:电荷耦合器件 电离总剂量效应 位移损伤效应 偏置条件 
航天分散热源控温用环路热管设计及飞行应用被引量:9
《宇航学报》2021年第6期798-806,共9页杨涛 赵石磊 高腾 赵振明 赵宇 李春林 
国家重大科技专项工程。
为满足国家高分专项遥感卫星焦面电路的力热稳定性要求,提出并设计了一种用于分散式热源精密控温的改进型环路热管(LHP),既实现了狭小空间内对多片焦面CCD器件的统一恒温控制,又兼顾了焦面结构与卫星舱板间的力学解耦功能。地面测试结...
关键词:环路热管 分散热源 GF-9卫星CCD器件 恒温控制 飞行应用 
微透镜工艺优化背照CCD器件MTF的研究被引量:1
《电子技术(上海)》2020年第12期6-7,共2页高建威 曲鹏程 张晓琴 龙梅 李琳 
背面微透镜技术可以收束入射光的进入范围,理论上可以有效降低像元间的漏光(smear)以及MTF问题。针对某背照CCD器件进行微透镜设计,并对集成了微透镜技术的器件进行对比测试。结果证明该方法可以有效优化器件MTF值。
关键词:背照 MTF 微透镜 CCD 漏光 
CCD器件用机械泵驱动两相流体回路仿真与试验被引量:8
《北京航空航天大学学报》2019年第5期893-901,共9页赵振明 孟庆亮 张焕冬 赵慧 
国家自然科学基金(51806010)~~
电荷耦合元件(CCD)作为航天光学遥感器的核心部件之一,其工作性能受温度影响很大,传统的热控产品难以满足大功率CCD的精密控温需求。通过仿真与试验系统研究了机械泵驱动两相流体回路(MPTL)用于CCD控温时的启动特性、运行状态、内部工...
关键词:电荷耦合元件(CCD) 遥感器热控 精密控温 机械泵驱动两相流体回路(MPTL) 两相流动与传热 
CCD图像传感器
《今日电子》2018年第6期61-61,共1页
Interline Transfer EMCCD器件将两种成熟的成像技术与一个独特的输出结构相结合,实现一种全新的低噪声、高动态范围成像的类别.Interline Transfer CCD以高效的电子快门提供出色的图像质量和均匀性,而EMCCD则在微光条件下表现出色.结...
关键词:CCD图像传感器 EMCCD 成像技术 动态范围 场景检测 CCD器件 像素分辨率 图像质量 
基于Matlab的CCD激光损伤仿真设计被引量:1
《长春理工大学学报(自然科学版)》2017年第6期52-56,共5页程高峰 王顺 李强 杨建昌 闫宗群 
构建了一个基于Matlab GUI人机交互良好的CCD激光损伤仿真平台,成功实现了在不同条件下对CCD激光损伤的仿真,并且能够灵活设置激光器关键参数以及出射激光辐射作用距离,对不同条件下所得仿真结果进行对比分析。此CCD激光损伤仿真平台得...
关键词:激光损伤 CCD器件 MATLAB 阈值 
ANSYS在CCD器件温度场仿真中的应用被引量:1
《工具技术》2016年第7期100-103,共4页王景福 赵肖楠 宋林森 
根据CCD器件的特点及实际工作环境,建立其在脉冲激光辐射下温度场的仿真数学模型。利用ANSYS软件APDL语言实现CCD器件参数化建模的全过程,完成CCD器件温度场的数值模拟,得到不同时间段脉冲激光辐射下的温度场分布和温升曲线。
关键词:光学元件 CCD器件 脉冲激光 温度场 仿真 
安森美半导体推出行间转移CCD图像传感器
《电子技术应用》2016年第2期134-134,共1页
瑟森美半导体(ON Semiconductor)推出世界上分辨率最高的行间转移CCD器件KAI-47051图像传感器,为严格的工业检测和测绘应用中获得性能和能效的新水平。
关键词:CCD图像传感器 安森美半导体 行间 CCD器件 工业检测 分辨率 
KAI-47051高分辨率图像传感器 安森美半导体有限公司
《传感器世界》2016年第2期48-48,共1页
安森美半导体(ON Semiconductor)推出世界上分辨率最高的行间转移CCD器件KAI-47051图像传感器,为严格的工业检测和测绘应用中获得性能和能效的新水平。
关键词:图像传感器 高分辨率 安森美半导体 CCD器件 工业检测 
一种针对使用背照减薄型CCD器件色散型成像光谱仪的星上光谱定标方法(英文)
《红外与毫米波学报》2015年第3期258-264,共7页马亮 危峻 黄小仙 
Supported by National High Technology Research and Development Program of China(863 Program)(2012AA121102)
使用背照减薄型CCD器件的色散型成像光谱仪在近红外波段会出现呈条带状干涉条纹现象,该干涉条纹对入射光波长分布敏感,空间频率稳定,特别适用于微小光谱偏差的测量与校准。针对一台光栅色散型推扫式成像光谱仪样机,先估计出条纹分布的规...
关键词:光谱定标 被照减薄 干涉条纹 成像光谱仪 
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