基于电子经纬仪的双目CCD测量系统的标定研究  

Calibration study on dual-CCD measurement system based on digital theodolite

作　　者：李清安[1] 王厦[2] 孙志远[1] 乔彦峰[1] 朱玮[1] 

机构地区：[1]中国科学院长春光学精密机械与物理研究所光电测控部 [2]首钢工学院经济管理系,北京100041

出　　处：《仪器仪表学报》2006年第z1期188-190,共3页Chinese Journal of Scientific Instrument

摘　　要：介绍了一种实验室里使用电子经纬来进行双目CCD摄像机交会测量系统的内外部参数的标定方法,这种方法精度较高、较为方便。并给出了交会测量的数学模型,并对该姿态测量的仿真系统的测量精度进行了计算与分析。试验证明如果合理布站测量系统坐标点的提取精度可以达到0.5mm以内。A new calibration method on dual-CCD intersection measurement in the lab is described,which is more accurate and convenient.This paper creates a math model of intersected measuring system and the measurement precision of this method is calculated and analyzed in detail.The result shows that the system measurement precision of a point target may reach 0.5mm if the stations are rightly arranged.

关 键 词：光学测量 CCD标定 光电经纬仪 

分 类 号：TH7-55[机械工程—仪器科学与技术]