SiO2图像分析法统计颗粒数对粒径影响的研究  

作　　者：黄蕊[1] 周素红[1] 邹涛[1] 陈萦[1] 

机构地区：[1]北京联合大学机电学院,北京,100020 北京市理化分析测试中心,北京,100089 北京市理化分析测试中心,北京,100089 北京市理化分析测试中心,北京,100089

出　　处：《中国粉体技术》2005年第z1期216-218,共3页China Powder Science and Technology

摘　　要：采用图像分析法[1]对SiO2颗粒的透射电镜[2～3]照片进行统计,并讨论了统计颗粒数对粒径值的影响.同时与光子相关法[4]的结果进行对比.实验结果表明:对于呈球形且单分散的颗粒而言,利用图像分析法测量其粒径时选择颗粒数大于100个即可,且统计颗粒数大于2500个时所得结果更接近其真实值.

关 键 词：图像分析 SIO2微球 颗粒数 粒径 

分 类 号：TB44[一般工业技术]