黄蕊

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发文领域:一般工业技术机械工程更多>>
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SiO2图像分析法统计颗粒数对粒径影响的研究
《中国粉体技术》2005年第z1期216-218,共3页黄蕊 周素红 邹涛 陈萦 
采用图像分析法[1]对SiO2颗粒的透射电镜[2~3]照片进行统计,并讨论了统计颗粒数对粒径值的影响.同时与光子相关法[4]的结果进行对比.实验结果表明:对于呈球形且单分散的颗粒而言,利用图像分析法测量其粒径时选择颗粒数大于100个即可,...
关键词:图像分析 SIO2微球 颗粒数 粒径 
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