SOLT校准法在MMIC去嵌入问题中的应用  

Application of the SOLT Calibration Method for MMIC de-embedding

作　　者：应子罡 吕昕 高本庆 李拂晓 高建峰 

出　　处：《电子测量与仪器学报》2004年第z1期549-552,共4页Journal of Electronic Measurement and Instrumentation

摘　　要：单片微波集成电路(MMIC)在当今电子业的巨大推动下得到迅速的发展,其中器件测试方法的准确度直接影响到模型库的建立,并进一步关系到产品的成本、周期和监测等问题.传统的MMIC去嵌入方法是基于等效电路模型进行网络参数剥离,随着新的化合物材料的应用使器件的工作频率不断提高,这时传统方法会带来很大误差.本文引入了SOLT校准方法利用误差网络来实现去嵌入,并给出测试方法的步骤,流片试验结果分别同三维全波电磁场仿真比较,证明本文的校准方法更具准确性和实用性.

关 键 词：校准 去嵌入 微波单片集成电路 电感 

分 类 号：TM93-55[电气工程—电力电子与电力传动]