xFe-Al2O3颗粒薄膜的XRD分析和GMR效应  

XRD analysis and GMR effect of granular films xFe-Al2O3

作　　者：艾尔肯·阿不列木[1] 甫尔开提·夏尔丁[1] 哈里木拉提·阿扎提[1] 

机构地区：[1]新疆大学,物理系,新疆,乌鲁木齐,830046 新疆大学,物理系,新疆,乌鲁木齐,830046 新疆大学,物理系,新疆,乌鲁木齐,830046

出　　处：《功能材料》2004年第z1期637-638,642,共3页Journal of Functional Materials

摘　　要：对rf溅射法制备的xFe-Al2O3颗粒薄膜,应用X射线衍射仪(XRD)进行了测试和分析,推算了不同样品中Fe粒子的大小和元素面积比.并使用4探针外加磁场法对薄膜的巨磁阻效应进行了分析和讨论.当Fe面积比约为25%时,样品的磁电阻率在1.5T磁场下可达-2.3%.

关 键 词：溅射法 颗粒薄膜 巨磁阻 X-射线衍射 

分 类 号：TM277[一般工业技术—材料科学与工程]