迈克尔逊干涉仪中附加光程差对干涉图样影响的讨论  

A DISCUSSION ON THE EFFECT OF THE ADDITIONAL LIGHT PATH DIFFERENCE ON THE INTERFERENCE PATTERN IN MICHELSON INTERFEROMETER

作　　者：彭秀华[1] 

机构地区：[1]江汉石油学院,荆州434102

出　　处：《大学物理实验》2001年第1期11-15,共5页Physical Experiment of College

摘　　要：用迈克尔逊干涉仪做物理光学实验 ,教学中出现了在常规实验中不能出现的奇异现象 ,本文通过分析仪器中的附加光程差 ,对干涉图样形成的原因作了定性解释 ,并得出结论。The cause of the interference pattern formation is explained qualitatively by the analysis of the additional light path difference in the apparatus and a result is obtained.

关 键 词：干涉仪 附加光程差 干涉图样 

分 类 号：O436.1[机械工程—光学工程]