非制冷红外焦平面非均匀性测试技术研究  

Non-uniformity measurement of uncooled infrared focal plane array

作　　者：钱芸生[1] 张俊举[1] 孙恋君[1] 邢素霞[1] 常本康[1] 

机构地区：[1]南京理工大学电子工程与光电技术学院,江苏,南京,210094 南京理工大学电子工程与光电技术学院,江苏,南京,210094 南京理工大学电子工程与光电技术学院,江苏,南京,210094 南京理工大学电子工程与光电技术学院,江苏,南京,210094 南京理工大学电子工程与光电技术学院,江苏,南京,210094

出　　处：《红外与激光工程》2007年第z1期129-132,共4页Infrared and Laser Engineering

摘　　要：非制冷焦平面的非均匀性和噪声是限制非制冷红外热成像系统性能的主要因素.研制了非制冷红外焦平面的非均匀性测试系统,系统由黑体、红外光学系统、焦平面驱动电路、热电温控电路、信号处理系统、计算机和测试软件等构成,利用该系统可以将微测辐射热计非制冷红外焦平面各像元的输出信号数字化后传输给计算机,实现对焦平面的非均匀性测试和盲元统计,并给出了实验结果.

关 键 词：非制冷红外焦平面 微测辐射热计 非均匀性 测试 

分 类 号：TN216[电子电信—物理电子学]