俄歇电子像的蒙特卡罗模拟  

Monte Carlo simulation study of Auger electron images

作　　者：丁泽军[1] 李永钢[1] 李会民[1] 张增明[1] 孙霞[1] 

机构地区：[1]中国科技大学,物理系,合肥,230026,中国 中国科技大学,物理系,合肥,230026,中国 中国科技大学,物理系,合肥,230026,中国 中国科技大学,物理系,合肥,230026,中国 中国科技大学,物理系,合肥,230026,中国

出　　处：《现代科学仪器》2006年第z1期12-13,共2页Modern Scientific Instruments

基　　金：This work is supported by the National Natural Science Foundation of China(Grant Nos.10574121,10025420 and 90206009).

摘　　要：　　Simulation of Auger electron image contrast formation is helpful for analyzing the images in scanning Auger microscopy/microanalysis(SAM),which provides elemental and chemical composition of surface and,thus,applies to the material evaluation and identification for many kinds of materials.……

分 类 号：TH7[机械工程—仪器科学与技术]