整体叶盘叶片型面CMM测量路径规划技术  

CMM Measurement Path Planning Technology for Blade Surface of Blisk

作　　者：蔺小军[1] 李宜明[1] 李政辉[1] 高春[1] 

机构地区：[1]西北工业大学现代设计与集成制造技术教育部重点实验室

出　　处：《航空制造技术》2012年第11期50-52,共3页Aeronautical Manufacturing Technology

基　　金：国家科技支撑计划(2008BAF32B10)项目资助

摘　　要：由于整体叶盘结构复杂,叶片型面为复杂自由曲面,扭曲度大,加工精度要求高,相邻叶片之间的通道深而窄、开敞性差,因此造成整体叶盘制造相对单叶片困难,相应也为其测量增加了难度。测量机对叶盘型面进行测量,首先要进行路径规划,路径规划的好坏决定CMM测量的效率和有效性。

关 键 词：整体叶盘 偏置 参数化 叶片数 叶片型面 路径规划技术 CMM 

分 类 号：V263[航空宇航科学与技术—航空宇航制造工程]