检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:吴义成[1] 梁华国[2] 李松坤[1] 黄正峰[2] 易茂祥[2]
机构地区:[1]合肥工业大学计算机与信息学院,合肥230009 [2]合肥工业大学电子科学与应用物理学院,合肥230009
出 处:《计算机研究与发展》2010年第S1期195-199,共5页Journal of Computer Research and Development
基 金:国家自然科学基金项目(60876028);国家自然科学基金重点项目(60633060);高等学校博士学科点专项科研基金项目(200803590006);安徽省海外高层次人才项目(2008Z014);合肥工业大学科学研究发展基金项目(2010HGXJ0071);合肥工业大学博士学位人员专项资助基金项目(GDBJ2010-002);安徽高校省级自然科学研究重点项目(KJ2010A280)
摘 要:提出了一种基于选择逻辑电路实现自选择折叠计数器状态转移的BIST方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过设计的选择电路来控制折叠距离的选取,从而实现了确定的与原测试集相等的测试模式生成.方案不仅实现了测试数据的压缩,而且成功避开了冗余的无用向量,以达到减少大量的测试时间的目的.实验结果证明,建议的方案不仅具有较高的测试数据压缩率,而且能够非常有效地减少测试应用时间.提出了一种基于选择逻辑电路实现自选择折叠计数器状态转移的BIST方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过设计的选择电路来控制折叠距离的选取,从而实现了确定的与原测试集相等的测试模式生成.方案不仅实现了测试数据的压缩,而且成功避开了冗余的无用向量,以达到减少大量的测试时间的目的.实验结果证明,建议的方案不仅具有较高的测试数据压缩率,而且能够非常有效地减少测试应用时间.
关 键 词:内建自测试 折叠计数器 自选择电路 测试数据压缩 测试时间
分 类 号:TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
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