内建自测试

作品数：372被引量：694H指数：13
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基于可跨层重构LFSR的3D-SIC内建自测试方案
《微电子学与计算机》2025年第3期100-109,共10页陈田 罗蓓蓓 刘军 鲁迎春 
国家自然科学基金(62174048,62027815)。
针对三维堆叠集成电路(Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits,3D-SIC)中测试面积开销和测试数据存储量大的问题,对于n层3D-SIC,提出了一种基于可跨层重构线性反馈移位寄存器(Cross-Layer Reconfigurable Linear Feedback Shif...
关键词：可跨层重构LFSR BIST 测试数据压缩 3D-SIC测试 
支持BIST的RS编解码器在国产FPGA上的设计与实现
《智能计算机与应用》2025年第1期171-177,共7页闻章 刘绍凯 
RS编码是一类应用广泛的纠错编码,由于有些国产FPGA平台未能提供该IP核的使用以及工程中在不同FPGA平台使用共享模块的需求,本文设计了一种低复杂度、低资源使用的RS编码器和RS解码器,提出了FPGA资源优化的方法,使用工具软件Matlab和Mod...
关键词：RS编码器 RS解码器 内建自测试 PRBS 国产FPGA 
大规模芯片内嵌存储器的BIST测试方法研究
《国外电子测量技术》2024年第5期18-25,共8页葛云侠 陈龙 解维坤 张凯虹 宋国栋 奚留华 
随着大规模芯片的块存储器(block random access memory,BRAM)数量不断增多,常见的存储器内建自测试(memory build-in-self test,Mbist)方法存在故障覆盖率低、灵活性差等问题。为此,提出了一种新的基于可编程有限状态机的Mbist方法,通...
关键词：大规模芯片 块存储器 存储器内建自测试 可编程存储器内建自测试控制器 故障覆盖率 
一种基于分压电路的绑定后TSV测试方法被引量：1
《微电子学与计算机》2024年第4期132-140,共9页刘军 项晨 陈田 吴玺 
国家自然科学基金(62174048)。
对硅通孔(Through Silicon Via,TSV)进行绑定后测试可以有效地提升三维集成电路的性能和良率。现有的测试方法虽然对于开路和桥接故障的测试能力较高,但是对于泄漏故障的测试效果较差,并且所需的总测试时间较长。对此,提出了一种基于分...
关键词：三维集成电路 硅通孔 绑定后测试 内建自测试 
可兼容四种March系列算法的PMBIST电路设计
《黑龙江大学自然科学学报》2024年第2期242-252,共11页杨鹏 曹贝 付方发 王海新 
国家自然科学基金资助项目(61504032)。
存储器是系统级芯片(System on chip,SoC)中最重要的组成部分之一,也是最容易出现故障的部件。存储器故障可能会导致整个SoC失效,对存储器进行充分的测试和验证是至关重要的。目前,主流的存储器测试方法是采用存储器内建自测试(Memory b...
关键词：静态随机存储器 故障模型 March系列+算法 存储器内建自测试 
基于共享总线结构的存储器内建自测试电路
《半导体技术》2024年第2期158-163,200,共7页雷鹏 纪元法 肖有军 李尤鹏 
国家自然科学基金(62061010,62161007);广西科技厅项目(桂科AA20302022,桂科AB21196041,桂科AB22035074,桂科AD22080061);广西八桂学者项目;广西高校中青年教师科研基础能力提升项目(2022KY0181);桂林市科技项目(20210222-1);桂林电子科技大学研究生创新项目;“认知无线电与信息处理”教育部重点实验室2022年主任基金。
随着片上系统处理的数据增多,数据存储器测试逻辑相应增加,在保证测试功能的同时减小测试电路面积是当下急需解决的问题。基于共享总线结构的存储器内建自测试(MBIST)电路,通过将多个存储器引脚信号进行复用的方式,对存储器进行层次化设...
关键词：共享总线结构 存储器内建自测试(MBIST) 逻辑存储器 测试电路面积 层次化设计 
基于新型BIST的LUT测试方法研究
《现代电子技术》2024年第4期23-27,共5页林晓会 解维坤 宋国栋 
针对FPGA内部的LUT资源覆盖测试,提出一种新型BIST的测试方法。通过改进的LFSR实现了全地址的伪随机向量输入,利用构造的黄金模块电路与被测模块进行输出比较,实现对被测模块功能的快速测试,并在Vivado 2018.3中完成了仿真测试。通过AT...
关键词：查找表 内建自测试 FPGA 故障注入 线性反馈移位寄存器 自动测试设备 
逻辑内建自测试技术进展综述
《集成技术》2024年第1期44-61,共18页金敏 向东 
逻辑内建自测试(logic buit-in self-test,LBIST)是一种可测试性设计技术,利用芯片、板级或系统上的部分电路测试数字逻辑电路本身。LBIST对于许多应用来说至关重要,尤其是国防、航空航天、自动驾驶等生命和任务关键型的应用。这些应用...
关键词：逻辑内建自测试 伪随机序列产生器 多输入特征寄存器 确定性自测试 可测试性设计 
基于内建自测试电路的NAND Flash测试方法被引量：3
《电子与封装》2023年第11期18-24,共7页解维坤 白月芃 季伟伟 王厚军 
随着NAND Flash在存储器市场中的占比与日俱增,对NAND Flash的测试需求也越来越大。针对NAND Flash存储器中存在的故障类型进行讨论,并对现有测试算法进行分析,为提高故障覆盖率以及降低测试时间,对现有的March-like测试算法做出改进,...
关键词：NAND Flash 存储器内建自测试 March-like Flash故障类型 
可变容量的高可靠Flash型FPGA配置存储器设计
《电子与封装》2023年第10期58-65,共8页曹正州 查锡文 
采用0.18μm 2P6M Flash工艺设计了一款FPGA配置存储器,为SRAM型FPGA提供了串行和并行的码流加载方式,最高工作频率为50 MHz,具有存储容量可变、可靠性高的优点。通过设计地址侦测电路实现了该FPGA配置芯片的存储容量可变,从而提高了该...
关键词：配置存储器 FPGA 可变容量 FLASH 存储器内建自测试 
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