自动测试设备

作品数：538被引量：902H指数：15
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基于虚拟仪器的多信号电路板测试设备设计
《山西电子技术》2025年第2期1-3,共3页高大友 赵斌 高优 
多信号管理电路板所使用的原测试设备测试时需较多人工介入,不能完全自动化测试且无法模拟配套测试板的异常读写时序。为弥补原测试设备的不足,提出了一种基于虚拟仪器的自动化测试设备,在实现全自动化测试的同时弥补了无法仿真异常时...
关键词：虚拟仪器 PXI 自动测试设备 
模拟开关通用测试系统研究
《电子与封装》2025年第4期39-47,共9页钟昂 戴畅 
传统模拟开关测试系统存在开发周期长、部分参数测试精度不够的通用问题,逐渐无法满足当前高性能器件大批量生产测试的要求。利用共用母板的兼容性和大型测试机台的精准性、稳定性,设计了一套基于V93000自动测试设备的模拟开关通用测试...
关键词：测试系统 模拟开关 自动测试设备 硬件设计 
基于ATE的高速存储器测试技术研究
《中国集成电路》2024年第12期81-85,共5页谈元伟 李敬胶 常艳昭 苏洋 
DDR3芯片是一种能最高支持1600 Mbps传输速率的高速存储器芯片,本文对该类芯片的功能描述,寄存器配置进行介绍,针对ATE(Automated Test Equipment,自动测试设备)测试机台设计了相应的硬件Loadboard,最后在ATE测试机台上进行了速度等级测...
关键词：DDR3 寄存器编写 功能测试 自动测试设备 
高精度电压电流源设计研究
《中国集成电路》2024年第10期56-59,72,共5页钟锋浩 
电压电流源在集成电路自动测试设备是必配的资源,最大电压和电流的规格会有不同的要求,但都会对电压和电流的精度提出很高的要求。本文通过对电源线路原理的优化设计,解决了电源输出通过连接器和导线等不同路径对输出精度的影响,通过算...
关键词：电压电流源 精度 算法 自动测试设备(ATE) 
基于ATE的集成电路测试方案研究被引量：3
《电大理工》2024年第2期12-16,35,共6页吴琳 
2023年度辽宁省教育厅基本科研项目“基于ATE的集成运放芯片测试方法设计与研究”(JYTMS20230922)。
随着半导体和集成电路产业的发展与进步,利用自动测试设备开展集成电路自动化测试的研究,对于降低集成电路成本费用、促进集成电路发展,有着极为重要的实际价值。文章在总结集成电路测试分类的基础上,研究基于ATE的集成电路测试方案,分...
关键词：自动测试设备 集成电路测试 测试流程 
基于PXI及LXI总线的发射单元测试设备设计与实现
《山西电子技术》2024年第3期15-17,20,共4页高大友 高优 冯春 左清清 
为解决传统测试台人工介入多、测试效率低下、测试覆盖率低、无法远程控制进行数据采集等缺陷,介绍了一种基于PXI及LXI总线采用LabWindows/CVI开发平台的自动化测试设备,从硬件及软件两方面描述了设备的设计及实现方法。与传统测试台比...
关键词：PXI LXI LABWINDOWS/CVI 自动测试设备 
关于电子元器件失效分析方法的讨论
《日用电器》2024年第5期126-129,142,共5页田磊 
电子元器件的失效分析是一个复杂而重要的任务。通过综合运用各种分析方法,我们可以更全面地了解元器件的失效原因,为后续的改进和优化提供有力的支持。同时,随着技术的不断进步,我们有望在未来开发出更加先进和高效的失效分析方法,为...
关键词：失效分析 芯片失效 自动测试设备 
温差致冷组件电阻自动化测试设备
《电子质量》2024年第4期1-6,共6页田耕 吴佳瑜 李晋忠 齐雅青 郑斌 刘嘉鑫 
温差电致冷组件的电阻参数是反映致冷组件材料性能好坏的重要参数,在测试过程中能够快速获取该参数测试数据是十分必要的。提出了一种针对微型温差电致冷组件电阻测试的自动化设备及相应测试方法,通过对电阻测试系统的运动组件、自动上...
关键词：半导体 温差致冷 电阻 自动测试设备 
基于新型BIST的LUT测试方法研究
《现代电子技术》2024年第4期23-27,共5页林晓会 解维坤 宋国栋 
针对FPGA内部的LUT资源覆盖测试,提出一种新型BIST的测试方法。通过改进的LFSR实现了全地址的伪随机向量输入,利用构造的黄金模块电路与被测模块进行输出比较,实现对被测模块功能的快速测试,并在Vivado 2018.3中完成了仿真测试。通过AT...
关键词：查找表 内建自测试 FPGA 故障注入 线性反馈移位寄存器 自动测试设备 
基于ATE的高速DAC射频参数SFDR测试技术优化
《现代电子技术》2024年第2期16-20,共5页沈锺杰 张一圣 孔锐 王建超 
利用集成电路自动测试设备(ATE)测试高速DAC射频参数时,由于ATE测试板PCB走线较长、损耗较大以及机台提供的信号抖动比实装大等原因,导致ATE上高速DAC射频参数测试指标低于实装测试值。为此,文中介绍DAC电路的工作原理和测试方法;其次...
关键词：集成电路 自动测试设备(ATE) 高速数模转换器 射频参数 SFDR参数 测试码 PCB测试板 
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