存储器内建自测试

作品数：33被引量：92H指数：6
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相关作者：李晓维李华伟宫云战谈恩民何蓉晖更多>>
相关机构：中国科学院电子科技大学中国电子科技集团第五十八研究所桂林电子科技大学更多>>
相关期刊：《半导体技术》《计算机技术与发展》《微电子学》《中国集成电路》更多>>
相关基金：国家自然科学基金国家高技术研究发展计划教育部科学技术研究重点项目江苏省博士后科研资助计划项目更多>>
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大规模芯片内嵌存储器的BIST测试方法研究
《国外电子测量技术》2024年第5期18-25,共8页葛云侠 陈龙 解维坤 张凯虹 宋国栋 奚留华 
随着大规模芯片的块存储器(block random access memory,BRAM)数量不断增多,常见的存储器内建自测试(memory build-in-self test,Mbist)方法存在故障覆盖率低、灵活性差等问题。为此,提出了一种新的基于可编程有限状态机的Mbist方法,通...
关键词：大规模芯片 块存储器 存储器内建自测试 可编程存储器内建自测试控制器 故障覆盖率 
可兼容四种March系列算法的PMBIST电路设计
《黑龙江大学自然科学学报》2024年第2期242-252,共11页杨鹏 曹贝 付方发 王海新 
国家自然科学基金资助项目(61504032)。
存储器是系统级芯片(System on chip,SoC)中最重要的组成部分之一,也是最容易出现故障的部件。存储器故障可能会导致整个SoC失效,对存储器进行充分的测试和验证是至关重要的。目前,主流的存储器测试方法是采用存储器内建自测试(Memory b...
关键词：静态随机存储器 故障模型 March系列+算法 存储器内建自测试 
基于共享总线结构的存储器内建自测试电路
《半导体技术》2024年第2期158-163,200,共7页雷鹏 纪元法 肖有军 李尤鹏 
国家自然科学基金(62061010,62161007);广西科技厅项目(桂科AA20302022,桂科AB21196041,桂科AB22035074,桂科AD22080061);广西八桂学者项目;广西高校中青年教师科研基础能力提升项目(2022KY0181);桂林市科技项目(20210222-1);桂林电子科技大学研究生创新项目;“认知无线电与信息处理”教育部重点实验室2022年主任基金。
随着片上系统处理的数据增多,数据存储器测试逻辑相应增加,在保证测试功能的同时减小测试电路面积是当下急需解决的问题。基于共享总线结构的存储器内建自测试(MBIST)电路,通过将多个存储器引脚信号进行复用的方式,对存储器进行层次化设...
关键词：共享总线结构 存储器内建自测试(MBIST) 逻辑存储器 测试电路面积 层次化设计 
基于内建自测试电路的NAND Flash测试方法被引量：3
《电子与封装》2023年第11期18-24,共7页解维坤 白月芃 季伟伟 王厚军 
随着NAND Flash在存储器市场中的占比与日俱增,对NAND Flash的测试需求也越来越大。针对NAND Flash存储器中存在的故障类型进行讨论,并对现有测试算法进行分析,为提高故障覆盖率以及降低测试时间,对现有的March-like测试算法做出改进,...
关键词：NAND Flash 存储器内建自测试 March-like Flash故障类型 
可变容量的高可靠Flash型FPGA配置存储器设计
《电子与封装》2023年第10期58-65,共8页曹正州 查锡文 
采用0.18μm 2P6M Flash工艺设计了一款FPGA配置存储器,为SRAM型FPGA提供了串行和并行的码流加载方式,最高工作频率为50 MHz,具有存储容量可变、可靠性高的优点。通过设计地址侦测电路实现了该FPGA配置芯片的存储容量可变,从而提高了该...
关键词：配置存储器 FPGA 可变容量 FLASH 存储器内建自测试 
一种基于存储器内建自测试的新型动态March算法设计被引量：4
《电子与信息学报》2023年第9期3420-3429,共10页蔡志匡 余昊杰 杨航 王子轩 郭宇锋 
国家重点研发计划(2018YFB2202005);国家自然科学基金(61974073);江苏省研究生科研与实践创新计划项目(SJCX21_0272)。
存储器作为片上系统(SoC)中最大和最重要的模块之一,它的稳定性和可靠性关乎着整个芯片能否正常工作。为了提高存储器的测试效率,该文提出一种新型动态March算法——Dynamic-RAWC。相比经典的March RAW算法,Dynamic-RAWC算法有着更良好...
关键词：存储器内建自测试 MARCH算法 动态故障 故障覆盖率 
异构多核DSP芯片的可测性设计
《中国集成电路》2023年第8期76-80,共5页孙大成 
本文介绍了一款异构多核DSP芯片的可测性设计实现,包含存储器内建自测试、存储器修复、扫描链设计、测试压缩和全速扫描测试。文章首先对芯片架构和可测性设计难点进行了介绍,并制定了全芯片可测性设计的策略,随后介绍了具体的实现,最...
关键词：可测性设计 存储器内建自测试 测试压缩 全速测试 
层次化设计方法在存储器内建自测试上的应用
《中国集成电路》2023年第4期21-24,共4页孙大成 
本文简单介绍存储器内建自测试设计技术原理,针对具体的RTL实例,对自顶向下设计方法和层次化设计方法进行了比较。实例结果表明:层次化的设计方法在大型芯片的存储器内建自测试设计中,可以加速设计,减少设计迭代时间,大幅提高工作效率。
关键词：层次化设计 存储器内建自测试 
一种优化FPGA内嵌BRAM自检测March C+算法被引量：3
《国外电子测量技术》2022年第4期1-7,共7页葛云侠 武乾文 赵益波 陈龙 
国家自然科学基金(61871230);江苏省自然科学基金(BK20181410)项目资助
在现场可编程门阵列内嵌块存储器(BRAM)测试中,传统测试方法存在故障覆盖率不高、测试内容较多、测试成本较高等问题。为了提高故障覆盖率,在March C+算法的基础上,提出一种March CG新算法。该算法通过增加连续写操作和测试算法的数据...
关键词：存储器内建自测试 块存储器 March C+ 故障覆盖率 
基于改进算法的DICE结构抗辐射SRAM内建自测试电路设计被引量：3
《黑龙江大学自然科学学报》2020年第6期743-750,共8页王海新 曹贝 付方发 李美慧 
国家自然科学基金资助项目(61504032);黑龙江大学研究生创新科研项目基金资助项目(YJSCX2020-173HLJU)。
为测试DICE结构抗辐射静态随机存储器(Static random-access memory,SRAM)在生产制造后是否存在故障,针对DICE结构抗辐射SRAM设计存储器内建自测试电路(Memory built-in self-test,MBIST)。DICE结构SRAM不同于传统结构SRAM,由于它的存...
关键词：DICE结构抗辐射SRAM 故障模型 MARCH算法 存储器内建自测试 
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