MARCH算法

作品数：38被引量：72H指数：5
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测试原语:存储器故障最小检测序列的统一特征
《电子与封装》2023年第12期1-8,共8页肖寅东 王恩笙 路杉杉 戴志坚 
March算法作为一类高效的存储器测试算法,已在学术界得到广泛、深入的研究,并取得了卓越成果。然而,当前以故障原语为核心的故障建模方法无法直接应用于March算法的分析。提出了一种新的测试原语,将其作为故障原语与March算法之间的桥梁...
关键词：MARCH算法 故障原语 测试原语 
一种基于存储器内建自测试的新型动态March算法设计被引量：4
《电子与信息学报》2023年第9期3420-3429,共10页蔡志匡 余昊杰 杨航 王子轩 郭宇锋 
国家重点研发计划(2018YFB2202005);国家自然科学基金(61974073);江苏省研究生科研与实践创新计划项目(SJCX21_0272)。
存储器作为片上系统(SoC)中最大和最重要的模块之一,它的稳定性和可靠性关乎着整个芯片能否正常工作。为了提高存储器的测试效率,该文提出一种新型动态March算法——Dynamic-RAWC。相比经典的March RAW算法,Dynamic-RAWC算法有着更良好...
关键词：存储器内建自测试 MARCH算法 动态故障 故障覆盖率 
基于March算法的电子病案数据存储归档方法研究
《中国医疗设备》2023年第8期79-85,共7页吴思颖 
云南省科技厅科技计划项目(202001BA070023-0044)。
目的研究基于March算法的电子病案数据存储归档方法,测试存储器故障,提高存储归档的效率。方法有效结合区块链结构的数据存储特点,建立电子病案数据存储模型,加密电子病案数据,保证电子病案数据不被篡改;基于March算法,通过对指定电子...
关键词：MARCH算法 电子病案 数据存储 归档方法 区块链技术 读写操作 
基于March算法的医疗器械溯源数据存储方法
《中国医疗设备》2023年第7期39-44,共6页王飞 
安徽省卫生厅医药科研计划项目(12925KJ2017321)。
目的 医疗器械溯源种类众多,存储后的数据溯源时存在跨度大、数据丢失等问题,为提升医疗器械溯源数据存储性能,提出基于March算法的医疗器械溯源数据存储方法。方法 通过构建的滤波器对医疗器械溯源数据开展小波分解处理并实施阈值量化...
关键词：MARCH算法 医疗器械溯源数据 存储方法 存储性能 
STT-MRAM存储器的故障测试设计
《微电子学与计算机》2023年第5期112-117,共6页杨真 胡伟 王文 
国家自然科学基金项目(U20A20248)。
自旋转移矩的随机存储器(Spin Transfer Torque Magnetic Random Access Memory,STT-MRAM)以其非易失性、读写速度快、数据保持时间长、完全兼容CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)工艺等优势在新型存储器中脱颖而出.随着...
关键词：STT-MRAM MARCH算法 内建自测试 新型存储器 存储器测试 
基于March算法的网络多维数据优化存储方法被引量：3
《吉林化工学院学报》2021年第9期78-81,87,共5页胡茂美 
安徽省级教学研究项目“构建数字媒体教学工作室,革新现有高职教学模式”(2020jyxm1467)。
传统的多维数据优化存储方法存在存储性能较差、信噪比较低的问题.为此,提出一种基于March算法的网络多维数据优化存储方法.根据映射函数,对网络多维数据进行映射函数整数编码;通过映射获得多维数组的坐标值,完成维数据组织构建;依据二...
关键词：MARCH算法 网络 多维数据 优化存储 维数据 度量数据 
静态随机存储器在轨自检算法被引量：1
《北京航空航天大学学报》2021年第6期1233-1240,共8页吴洋 王羿 于新宇 许智龙 任放 黄缙 
王宽诚教育基金“先进偏振遥感技术与应用国际团队”(GJTD-2018-15)。
静态随机存储器(SRAM)在轨自检应用于星载电子设备上电初始化过程中,能够在电子设备开始工作前发现存储器的故障单元,为评估电子设备健康状态提供依据。分析了SRAM的结构和常见的故障原理,针对在轨应用这一特殊背景开展研究,提出了对典...
关键词：静态随机存储器(SRAM) 在轨自检 MARCH算法 集成电路测试 航天产品 
基于改进算法的DICE结构抗辐射SRAM内建自测试电路设计被引量：3
《黑龙江大学自然科学学报》2020年第6期743-750,共8页王海新 曹贝 付方发 李美慧 
国家自然科学基金资助项目(61504032);黑龙江大学研究生创新科研项目基金资助项目(YJSCX2020-173HLJU)。
为测试DICE结构抗辐射静态随机存储器(Static random-access memory,SRAM)在生产制造后是否存在故障,针对DICE结构抗辐射SRAM设计存储器内建自测试电路(Memory built-in self-test,MBIST)。DICE结构SRAM不同于传统结构SRAM,由于它的存...
关键词：DICE结构抗辐射SRAM 故障模型 MARCH算法 存储器内建自测试 
高安全电子设备中RAM测试算法的设计与实现被引量：1
《航空计算技术》2020年第6期113-115,共3页杨晓宁 黄保垒 卫一芃 
装备预研联合基金项目资助(6141B05060403)。
为了满足航空高安全电子设备领域的高可靠性和高安全性,解决内存故障给系统带来的不稳定性,针对内存的故障类型和典型的内存测试场景,设计出一种按数据总线、地址总线、存储单元划分功能电路,以总线宽度(字或双字)为测试基准,结合字内...
关键词：电子设备 可靠性 RAM测试 MARCH算法 
一种适用于FinFET单存储单元的高效的动态故障测试算法被引量：2
《微电子学与计算机》2019年第4期17-22,共6页桑胜男 张立军 郑坚斌 彭增发 
FinFET作为现在最前沿的晶体管技术,在嵌入式存储器上得到了广泛应用.但是,新的工艺也带来了新的缺陷.Synopsys公司通过故障建模及测试发现:FinFET存储器比平面存储器对动态故障更敏感.而经典的测试算法仅仅针对静态故障.目前关于动态...
关键词：SRAM MARCH算法 动态故障 故障原语 MBIST 
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