云南高校图书馆联盟文献共享服务平台- MBIST

MBIST: 作品数：25被引量：29H指数：3; 导出分析报告; 相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>; 相关作者：谈恩民金锋刘学勇李晓江马成炎更多>>; 相关机构：桂林电子科技大学上海交通大学华中科技大学西安电子科技大学更多>>; 相关期刊：《半导体技术》《微电子学与计算机》《电子测试》《电子元器件应用》更多>>; 相关基金：安徽省高校省级自然科学研究项目中国人民解放军总装备部预研基金更多>>

基于共享总线结构的存储器内建自测试电路: 《半导体技术》2024年第2期158-163,200,共7页雷鹏纪元法肖有军李尤鹏; 国家自然科学基金(62061010,62161007);广西科技厅项目(桂科AA20302022,桂科AB21196041,桂科AB22035074,桂科AD22080061);广西八桂学者项目;广西高校中青年教师科研基础能力提升项目(2022KY0181);桂林市科技项目(20210222-1);桂林电子科技大学研究生创新项目;“认知无线电与信息处理”教育部重点实验室2022年主任基金。; 随着片上系统处理的数据增多,数据存储器测试逻辑相应增加,在保证测试功能的同时减小测试电路面积是当下急需解决的问题。基于共享总线结构的存储器内建自测试(MBIST)电路,通过将多个存储器引脚信号进行复用的方式,对存储器进行层次化设...; 关键词：共享总线结构存储器内建自测试(MBIST) 逻辑存储器测试电路面积层次化设计

一种具备MBIST功能的Flash型FPGA配置芯片设计被引量：2: 《电子与封装》2022年第11期36-41,共6页柯志鸣党堃原单宝琛丛红艳; Flash型FPGA配置芯片相较于反熔丝配置芯片和可擦除可编程只读存储器(EPROM)型配置芯片,具有非易失性、功耗低、安全性高、可多次编程等更优异的特点。设计了一款具备存储器内建自测试(MBIST)功能的Flash型FPGA配置芯片,在March C-的基...; 关键词：Flash型配置芯片 MBIST 非易失性 FPGA

基于FPGA的存储内建自测试的研究被引量：2: 《仪器仪表用户》2021年第6期53-57,共5页薛凯侯荣彬李勇; 本文以SRAM为研究对象,介绍了储存器中常见的几种故障类型以及测试方法。March算法能够对各种储存器常见故障进行检测,但有些故障(比如耦合故障中的字内故障和字间故障)是检测不出来的。通过对现有测试算法的优化,使储存器测试的故障覆...; 关键词：硬件描述语言 MARCH SRAM MBIST FPGA

基于故障类型的高效March算法构造被引量：3: 《电子技术（上海）》2020年第11期4-9,共6页顾屹遥洪亮; 上海市经济和信息化委员会软件和集成电路产业发展专项基金(1500204); March算法是一系列用以测试片上随机存储器的测试算法,通过搭配存储器内的内建自测试系统(mBIST)与功能故障模型,可以检测存储器中存在的故障。March算法的优劣直接影响到存储器的测试效率,其评判指标为故障覆盖率和时间复杂度。通过分...; 关键词：MBIST March算法构造算法指标时间复杂度

An LFSR-based address generator using optimized address partition for low power memory BIST被引量：1: 《Journal of Measurement Science and Instrumentation》2020年第3期205-210,共6页YU Zhi-guo LI Qing-qing FENG Yang GU Xiao-feng; Foundation items:Fundamental Research Funds for the Central Universities(No.JUSRP51510);Primary Research&Development Plan of Jiangsu Province(No.BE2019003-2)。; Power consumption in test mode is much higher than that in normal mode,which is prone to causing circuit damage and reducing the yield of chips.To reduce the power dissipation efficiently,a modified linear feedback sh...; 关键词：address sequence linear feedback shift register(LFSR) memory built-in self-test(MBIST) address generator switching activity

嵌入式SRAM MBIST优化设计研究被引量：1: 《微电子学与计算机》2020年第8期37-42,共6页姜爽刘诗斌郭晨光喻贤坤; 随着制造工艺的进步和SoC功能的日益丰富,现代SoC大多会集成大量不同种类的嵌入式SRAM,三单元耦合故障对电路的影响开始加深.传统MBIST通常基于EDA工具直接实现,以检测单、双单元故障为主,无法全面覆盖三单元耦合故障,应用于现代SoC时...; 关键词：SRAM MBIST 三单元耦合故障测试成本测试覆盖率

一种适用于FinFET单存储单元的高效的动态故障测试算法被引量：2: 《微电子学与计算机》2019年第4期17-22,共6页桑胜男张立军郑坚斌彭增发; FinFET作为现在最前沿的晶体管技术,在嵌入式存储器上得到了广泛应用.但是,新的工艺也带来了新的缺陷.Synopsys公司通过故障建模及测试发现:FinFET存储器比平面存储器对动态故障更敏感.而经典的测试算法仅仅针对静态故障.目前关于动态...; 关键词：SRAM MARCH算法动态故障故障原语 MBIST

一种MCU可测性优化设计被引量：2: 《电子与封装》2018年第8期28-32,共5页范学仕刘云晶; 为了降低测试成本,提高测试效率,将测试资源划分技术和测试端口复用技术相结合,基于ATE外部测试和BIST内部测试的优点,进行可测性设计。基于ATE的外部测试方法,设计了数字逻辑SCAN链和模拟IP测试模式。基于BIST内部测试方法,设计了MBIS...; 关键词：MCU 可测性设计资源划分技术 MBIST

一种Mbist新型算法March 3CL的设计被引量：4: 《电子测试》2017年第11X期50-52,47,共4页陈之超李小进丁艳芳李玲玲; 制造工艺的不断进步,嵌入式存储器在片上系统芯片中的集成度越来越大,同时存储器本身也变得愈加复杂,使得存储器出现了一系列新的故障类型,比如三单元耦合故障。存储器內建自测试技术是当今存储器测试的主流方法,研究高效率的Mbist算法...; 关键词：SRAM 存储器內建自测试三单元耦合故障 MARCH算法可测性设计

一种用于ASIC内部存储器单粒子翻转效应评估的方法被引量：2: 《微电子学与计算机》2017年第10期22-25,共4页郑宏超岳素格王亮简贵胄初飞; 本文提出了利用存储器内建自测试(MBIST)进行专用集成电路(ASIC)内部存储器的单粒子翻转(SEU)检测方法,研究并制定了MBIST的单粒子有效性辐照注量的统计方案,最后在重离子加速器上应用该方法进行了单粒子试验验证.通过与相同结构的存储...; 关键词：ASIC SRAM SEU MBIST

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