基于“均匀设计”的HPM效应试验参数选取  

A Method of Parameters Grouping for High-power Microwave Effects Experiment Based on Uniform Design

作　　者：杨志强 李平[2] 黄文华[2] 

机构地区：[1]清华大学电子工程系,北京100084 [2]西北核技术研究所,西安710024

出　　处：《战术导弹技术》2010年第4期23-26,56,共5页Tactical Missile Technology

摘　　要：在电子系统高功率微波效应试验研究中,获取待测器件损伤效应阈值需要在多种参数条件下进行研究.损伤性试验是破坏性的,样本无法重复使用,昂贵的费用往往导致试验样本数很少,给试验参数的选取造成极大限制.采用了一种基于"均匀设计"的试验参数选取方法,使用该方法可以避免在损伤效应试验中参数选取的随意性,以提高试验的效费比.基于该方法对原某集成电路试验进行设计,结果表明在采用该方法的基础之上可使费用降低27%,而且处理使用该方法获得的数据时,可以借助成熟的方法,提高数据分析效率.在电子系统高功率微波效应试验研究中,获取待测器件损伤效应阈值需要在多种参数条件下进行研究.损伤性试验是破坏性的,样本无法重复使用,昂贵的费用往往导致试验样本数很少,给试验参数的选取造成极大限制.采用了一种基于"均匀设计"的试验参数选取方法,使用该方法可以避免在损伤效应试验中参数选取的随意性,以提高试验的效费比.基于该方法对原某集成电路试验进行设计,结果表明在采用该方法的基础之上可使费用降低27%,而且处理使用该方法获得的数据时,可以借助成熟的方法,提高数据分析效率.

关 键 词：均匀设计 效应试验 试验点 

分 类 号：TJ761.1[兵器科学与技术—武器系统与运用工程]