用摄影测量对紧缩场反射器表面进行精度检测的可行性研究  

作　　者：周国芬 邵锡惠[2] 

机构地区：[1]河南地矿厅测绘院,郑州450007 [2]郑州测绘学院,郑州450052

出　　处：《地矿测绘》1997年第2期21-24,17,共5页Surveying and Mapping of Geology and Mineral Resources

摘　　要：本文根据紧缩场系统反射器表面精度检测的基本要求，制定了一套完整的摄影测量理论和方法，并利用模拟目标进行实际的试验研究、精度统计及分析。理论研究和试验结果表明，本理论及方法是正确的、可行的，用于反射器表面精度检测可以满足要求。

关 键 词：摄影测量 紧缩场 反射器 精度检测 直接线性变换 光线束法 微波天线 外方位元素 数学模型 精密立体坐标量测仪 

分 类 号：P23[天文地球—摄影测量与遥感]