电子部科学技术进步奖专栏  

出　　处：《现代制造》1994年第8期14-15,共2页Maschinen Markt

摘　　要：△V_BE测试仪（1993年度三等奖）△V_BE测试仪用计算机设置和控制,可测试耗散功率200W 以内的各种晶体管的△V_BE参数,并且有 SOA、过流、过压和过热保护。因△V_BE参数直接反应了晶体管热阻,热阻又与晶体管结构和制造工艺密切相关。

关 键 词：制造工艺 科学技术进步奖 耗散功率 过热保护 宽频段 微机控制 光功率计 彩色显象管 自动测量 衰减器 

分 类 号：TN32[电子电信—物理电子学]