STM在物质表面结构研究中的应用进展  

作　　者：白春礼[1] 郭军[1] 

机构地区：[1]中国科学院化学研究所

出　　处：《化学进展》1992年第2期1-14,共14页Progress in Chemistry

摘　　要：一、扫描隧道显微术的特点与进展 自从1933年德国Ruska和Knoll等人在柏林制成第一台电子显微镜后,几十年来,有许多用于表面结构分析的现代仪器先后问世,如透射电子显微镜(TEM)、扫描电子显微镜(SEM)、场电子显微镜(FEM)、场离子显微镜(FIM)、低能电子衍射(LEED)、俄歇谱仪(AES)、光电子能谱(ESCA )、电子探针等。

关 键 词：物质表面 低能电子衍射 STM 表面位 光电子能谱 场电子显微镜 原子层 透射电子显微镜 扫描电子显微镜 原子级 

分 类 号：O6[理学—化学]