解析立体测图仪ALPHA—2000系统在京展出  

作　　者：卢国伟 

出　　处：《测绘科学》1991年第3期48-48,共1页Science of Surveying and Mapping

摘　　要：美国国际图象系统公司(International Image Systems),1992年1月13日在北京展示了他们91年下半年向国际市场推出的一级精度解析立体测图仪系统ALPHA—2000。国家测绘局、总参测绘局、铁道部、长委办以及测绘、航天、林业、遥感等系统的其他有关部门的领导和科技人员数十人参加了活动。国际图象系统公司的数字测图仪部主任LYETE先生,工程师SCHMID先生,资询工程师HARBOUR先生,对解析立体测图仪的设计思想及仪器的特点作了介绍,并回答了在场提出的有关问题。

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分 类 号：P2[天文地球—测绘科学与技术]