Ta/Al合金薄膜中功率衰减器的研究  被引量:3

ON A MIDDING-POWER TA/AL THIN FILM ATTENUATOR

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作  者:贾宇明[1] 杨邦朝[1] 

机构地区:[1]电子科技大学材料科学与工程系,成都610054

出  处:《电子科技大学学报》1993年第2期203-206,共4页Journal of University of Electronic Science and Technology of China

摘  要:介绍了一种用于微波电路的中功率薄膜衰减器。该衰减器是由铝原子含量为50%的Ta/Al合金薄膜制成。其性能优良。This paper describes a middling-power thin Film attenuator used for microwave circuits. The attenuator is made from a Ta/Al thin film which contains aluminium of 50%.It is shown that the attenuator has higher performances.

关 键 词:薄膜集成电路 衰减器 微波衰减器 

分 类 号:TN715[电子电信—电路与系统]

 

参考文献:

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