铋系高Tc超导体的电镜观察  

作　　者：朱健[1] 周锷猷[1] 

机构地区：[1]中国科学院上海冶金研究所

出　　处：《电子显微学报》1993年第2期137-137,共1页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

摘　　要：本文利用JEM-200CX和JEM-4000EX电子显微镜对Bi_(1.6)Pb_(0.4)Sr_2Ca_2Cu_3O_y块状超导体进行了显微结构的研究。块状超导样品用高纯度的Bi_2O_3,PbO,SrO_2,CaO_3和CuO的粉末,按成份配比Bi_(1.6):Pb_(0.4):Sr_2:Ca_2:Cu_3:O_Y,经充分混匀和研磨后,在空气中进行820℃/48h焙烧后,压成块状,再进行855℃/170h高温烧结而成。把块状超导体经机械研磨和离子减薄制成电镜试样,进行电镜观察。Bi系化合物掺Pb后,以Pb部份取代Bi来稳定高温相,较易获得高含量的2223相(图1所示)。

关 键 词：超导体 BPSCCO 金相分析 电子显微镜 

分 类 号：TM262[一般工业技术—材料科学与工程]