边界扫描测试的自适应完备诊断算法的优化  

Optimization of self adaptable algorithm for diagnosis of boundary scan architecture

作　　者：吴继娟[1] 贾勇 

机构地区：[1]哈尔滨工程大学计算机科学与技术学院,黑龙江哈尔滨150001

出　　处：《通信管理与技术》2004年第3期43-45,共3页Communications Management and Technology

摘　　要：IEEE1149.1边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测性设计方法,在边界扫描测试过程中,生成合理的测试向量集是有效应用边界扫描机制对电路系统进行测试的关键。在分析传统边界扫描测试生成算法和W步、C步自适应测试生成算法的基础上,提出了一种改进的自适应测试生成算法。实验表明该算法具有完备的诊断能力和紧凑性指标较低的优点,是一种性能优良的完备测试生成算法。

关 键 词：边界扫描测试 自适应完备诊断算法 VLSI电路 IEEE1149.1 优化算法 

分 类 号：TN47[电子电信—微电子学与固体电子学]