边界扫描测试

作品数：133被引量：231H指数：8
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边界扫描测试技术及可测试性设计研究被引量：1
《信息记录材料》2024年第3期71-73,77,共4页张永涛 皇甫强龙 岳佳欣 
随着集成电路技术的不断发展,在超大规模集成电路时代,数字电路的应用越来越广泛,而其中使用的大规模数芯字片越来越多,如数字信号处理(digital signal processing,DSP)、现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)等;然而...
关键词：集成电路 边界扫描 可测试性 
边界扫描技术在某雷达控制模块测试中的应用
《电子工艺技术》2022年第3期128-130,142,共4页袁坤 邓威 钟华萍 孔令华 
介绍了边界扫描测试技术的应用,实现对雷达控制模块的自动化测试和故障自动化诊断判故分析。其工作原理是通过在雷达控制模块中组建集成测试系统,采用虚拟探针代替物理探针,测试数据同物理数据比对采用边界扫描技术模拟相关模块性能指...
关键词：边界扫描测试技术 雷达控制模块测试 ScanWorks平台 高密度集成电路 JTAG 
基于SQLite的边界扫描测试链路自动生成研究与实现被引量：2
《现代电子技术》2018年第8期64-67,71,共5页侯杏娜 陈寿宏 颜学龙 
广西高校科研项目(YB2014119);广西自动检测技术与仪器重点实验室项目(YQ15101)~~
为了提高边界扫描测试效率,提出一种基于嵌入式开源数据库SQLite的边界扫描测试链路自动生成方法。根据边界扫描编译结果得到SQLite数据库的各个数据表数据,分析各表间的数据关系,结合边界扫描矢量生成算法,从任意点随机触发,开始遍历...
关键词：边界扫描 SQLITE 链路生成 数据表 数据关系 模糊查询模式 
基于SerDes系统芯片边界扫描测试设计与电路实现
《南京邮电大学学报（自然科学版）》2018年第1期91-97,共7页代鸣扬 蔡志匡 陈冬明 郭宇锋 
国家自然科学基金(61504065;61574081);江苏省自然科学基金(BK20150848)资助项目
基于IP的So C设计能够有效提高设计效率,降低成本,是当前超大规模集成电路设计的主流解决方案。Ser Des作为一种复杂数模混合IP,可实现高速数据的接收与发送。文中针对So C芯片中Ser Des的PAD测试问题,提供两种改进的边界扫描测试技术,...
关键词：SERDES 边界扫描测试 串行测试 集成测试 
边界扫描测试技术在存储器测试中的应用被引量：2
《计算机与数字工程》2017年第3期579-582,共4页杨士宁 顾颖 石雪梅 罗晶 
边界扫描测试技术是一种基于集成电路可测性设计的测试技术,通过对集成电路内部测试寄存器输出响应的分析完成电路系统的测试及故障诊断。它提供了对器件的功能、互连及相互间影响进行测试的接口,极大地方便了对于复杂电路的测试。文章...
关键词：边界扫描测试 存储器测试 
边界扫描测试技术在球栅阵列封装器件故障定位中的应用
《中国科技期刊数据库 科研》2017年第3期9-9,共1页段知晓 
球栅阵列封装(BGA)器件器件的焊接故障问题一直是高密度电路板故障诊断中的难点,而边界扫描技术正是解决这类问题最行之有效的办法。本文首先介绍了BGA封装器件的特点和故障诊断的难点,分析了边界扫描测试技术在解决该问题上的优势,并...
关键词：边界扫描 BGA 故障 
集成电路边界扫描测试中的电路网表结构分析
《数字技术与应用》2016年第7期70-73,共4页陈翎 潘中良 
广东省自然科学基金(2014A030313441);广东省科技计划项目(2013B090600063;2014B090901005);广州市科技计划项目(201510010169)资助
边界扫描测试能够对电路芯片间的互连和每个芯片内部的逻辑功能等进行检测,可以检测出电路中多种类型的故障,以确保电路具有较高的可靠性和电路功能的正确性。本文首先说明了边界扫描测试的结构;其次,给出了边界扫描测试软件的设计方法...
关键词：集成电路 边界扫描 测试方法 软件程序 网表结构分析 
边界扫描测试系统的设计与实现被引量：3
《国外电子测量技术》2016年第6期82-85,91,共5页颜学龙 贾银涛 
为了解决复杂电路板的测试点少和测试覆盖率低以及传统的测试设备体积大、成本高等问题,IEEE1149.1标准被公布并发展出了边界扫描技术。本设计以边界扫描技术为基础,开发出由测试软件、测试控制器以及目标电路板组成的边界扫描测试系统...
关键词：边界扫描 故障诊断 IEEE1149.1 测试控制器 
集成电路可测试性设计与验证被引量：1
《无线互联科技》2016年第11期113-114,132,共3页吴立斌 
文章介绍了集成电路系统芯片(So C)以及IP核相关理论知识,对DFT集成电路可测试性设计进行了概述,给出了几种常用IC产品的测试方法,并对以后DFT可测试性设计的发展进行了论述;提出了一种基于图像处理的多级滤波芯片DFT测试进行分析,给出...
关键词：集成电路 DFT 边界扫描测试 设计验证 
边界扫描测试技术综述被引量：1
《电子世界》2016年第10期34-36,共3页张继伟 杨兵 
随着集成电路的快速发展,使得测试面临的问题也越来越多,在众多的测试技术中边界扫描测试越来越多的受到人们的关注。本文总结性的从边界扫描技术的研究现状,现如今已经取得的部分研究成果,以及边界扫描技术所面临的问题三方面进行介绍...
关键词：集成电路 边界扫描 展望 
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