检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]桂林电子科技大学电子工程与自动化学院,桂林541004
出 处:《国外电子测量技术》2016年第6期82-85,91,共5页Foreign Electronic Measurement Technology
摘 要:为了解决复杂电路板的测试点少和测试覆盖率低以及传统的测试设备体积大、成本高等问题,IEEE1149.1标准被公布并发展出了边界扫描技术。本设计以边界扫描技术为基础,开发出由测试软件、测试控制器以及目标电路板组成的边界扫描测试系统,并通过对目标板的故障测试,验证了该系统满足完整性测试,互联测试的设计要求且对印刷电路板(PCB)和集成电路(IC)制造和使用过程中出现的桥接故障和呆滞故障有良好的故障诊断、定位功能。To solve some problems like the lacking test points and the low level of test coverage of the complex PCB,IEEE1149.1was published and developed a new technology,namely boundary scan.Thetestablity system is based on boundary scan technology andconsists of the test software and the test controller and the targetcircuit board.At last,the test result which the testablity system did fault test of the unit under test(UUT)has indicated that the system meets design requirements of capture test and interconnection test,and has ability to diagnose and position bridge fault and stuck-at fault.
关 键 词:边界扫描 故障诊断 IEEE1149.1 测试控制器
分 类 号:TP206.3[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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