张继伟

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边界扫描测试技术综述被引量:1
《电子世界》2016年第10期34-36,共3页张继伟 杨兵 
随着集成电路的快速发展,使得测试面临的问题也越来越多,在众多的测试技术中边界扫描测试越来越多的受到人们的关注。本文总结性的从边界扫描技术的研究现状,现如今已经取得的部分研究成果,以及边界扫描技术所面临的问题三方面进行介绍...
关键词:集成电路 边界扫描 展望 
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