X荧光光谱法测定硅铁中主次量元素  

Determination of the Major and Minor Elements in Ferrosilicon by XRFS

作　　者：徐永宏[1] 

机构地区：[1]梅山技术中心

出　　处：《梅山科技》2004年第2期18-20,30,共4页

摘　　要：使用粉末压块法，制得样品块，采用理论α系数校正基体效应，结合经验校正系数对工作曲线进行优化后对硅铁样品进行荧光定量分析。

关 键 词：硅铁 X荧光光谱法 测定 粉末压块法 炼钢 硅 锰 磷 铝 钙 铬 

分 类 号：TF702.4[冶金工程—钢铁冶金] TF645