徐永宏

作品数：3被引量：7H指数：2
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发文主题：光谱法测定次量元素X荧光铁矿石仪器分析更多>>
发文领域：冶金工程金属学及工艺理学一般工业技术更多>>
发文期刊：《梅山科技》《宝钢技术》更多>>
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一种x衍射用多尺寸固体块状样品分析台
《宝钢技术》2013年第3期12-12,共1页徐永宏 吴小红 孙华云 周桂海 胡宏卫 
本实用新型涉及一种仪器分析样品台，特别涉及一种x衍射用多尺寸固体块状样品分析台。主要解决采用黏结剂、样品附着在其他物质表面或者更换适合小样品尺寸的样品台进行固定测量，不仅工作效率低下，且导致错误的测量结果的技术问题。
关键词：样品分析 x衍射 尺寸 块状 固体 仪器分析 实用新型 物质表面 
X荧光光谱法测定硅铁中主次量元素被引量：2
《梅山科技》2004年第2期18-20,30,共4页徐永宏 
使用粉末压块法，制得样品块，采用理论α系数校正基体效应，结合经验校正系数对工作曲线进行优化后对硅铁样品进行荧光定量分析。
关键词：硅铁 X荧光光谱法 测定 粉末压块法 炼钢 硅 锰 磷 铝 钙 铬 
X荧光光谱法测定铁矿石中主、次量元素的研究被引量：5
《梅山科技》2003年第4期35-38,共4页徐永宏 
使用熔融玻璃片法将试样与熔剂按照一定配比在高温下进行熔融以消除矿物、颗粒效应的影响制成玻璃片，进行荧光扫描后进行理论系数校正和经验系数校正，工作曲线优化后进行样品的荧光定量分析。
关键词：X荧光光谱法 测定 铁矿石 熔融玻璃片法 元素分析 
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