X荧光光谱法测定铁矿石中主、次量元素的研究  

作　　者：徐永宏[1] 

机构地区：[1]梅山技术中心

出　　处：《梅山科技》2003年第4期35-38,共4页

摘　　要：使用熔融玻璃片法将试样与熔剂按照一定配比在高温下进行熔融以消除矿物、颗粒效应的影响制成玻璃片，进行荧光扫描后进行理论系数校正和经验系数校正，工作曲线优化后进行样品的荧光定量分析。

关 键 词：X荧光光谱法 测定 铁矿石 熔融玻璃片法 元素分析 

分 类 号：TF521[冶金工程—钢铁冶金] O657.34[理学—分析化学]