JCT—2000微机控制通用荧光磁粉检测线研制报告  

作　　者：朱德金 

出　　处：《工程设计与应用研究》1993年第3期15-20,共6页

关 键 词：微机 控制 磁粉探伤机 检测线 

分 类 号：TG115.28[金属学及工艺—物理冶金]