电阻率层析成像技术的回顾与展望  

Review and prospect of resistivity tomography technology

作　　者：曹立斌[1] 孟永良[1] 周建兰[1] 

机构地区：[1]中国地质大学物探系,湖北武汉430074

出　　处：《勘探地球物理进展》2004年第3期170-173,共4页Progress in Exploration Geophysics

摘　　要：电阻率层析成像作为物探技术的前缘课题之一,具有广泛的应用前景,近几年得到迅速发展,出现许多新方法。对电阻率层析成像的几种实现方法,如佐迪法、电阻率反投影法、电流线追踪法、积分法、共轭梯度法、等位线追踪法等的现状、进展作了系统介绍,论述了各种方法的优缺点及最新进展情况,提出了进一步研究的方向。Resistivity tomography is developing rapidly in recent years. This paper presents a review on various re- alizations of resistivity tomograph such as Zohdy method, resistivity back-projection, electric current tracing method,integral method, conjugate gradient method, equipotential line tracing method. Based on an analysis of the advantages and disadvantages of different realizations, the author gives an outlook for resistivity tomography technology.

关 键 词：电阻率层析成像技术 地球物理勘探技术 积分法 共轭梯度法 等位线追踪法 电阻率反投影法 

分 类 号：P631.3[天文地球—地质矿产勘探]