全数字的模数转换器内建自测试方案  

An All-Digital BIST Scheme for the ADC Test

作　　者：饶进[1] 吴光林[1] 凌明[1] 胡晨[1] 

机构地区：[1]东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心,江苏南京210096

出　　处：《应用科学学报》2004年第3期356-359,共4页Journal of Applied Sciences

摘　　要：提出了一种针对片上模数转换器进行内建自测试的方法.利用斜坡信号作为测试激励,测试电路可以通过对转换器的低位进行测试来获取增益误差、失调误差以及微分非线性和积分非线性误差.该方法测试结构简单,并具有较高的测试速度.In this paper, a new built-in self-test approach has been applied to testing on-chip AD converters. A ramp signal is used as test stimulation. This test circuit is capable of measuring the offset, gain, integral nonlinearity(INL), and differential nonlinearity(DNL) errors by testing the low bits of ADC. Simple structure, and high speed are the advantages of the proposed test structure.

关 键 词：模数转换器 内建自测试 测试算法 模拟集成电路 信号分析器 

分 类 号：TH867.91[机械工程—仪器科学与技术] TN792[机械工程—精密仪器及机械]