无线芯片组的测试问题  

Wireless chipsets challenge testers

作　　者：SantaRosa 京湘 

机构地区：[1]AgilentTechnologies公司 [2]不详

出　　处：《电子产品世界》2003年第09A期65-67,共3页Electronic Engineering & Product World

关 键 词：无线芯片组 无线局域网 半导体器件 功能测试 误差向量 散射参数 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]