扫描隧道显微镜及其应用  

Seanning tunnel microscope and its application

作　　者：吉成元[1] 

机构地区：[1]苏州大学物理科学与技术学院

出　　处：《物理教师（高中版）》2004年第12期44-45,共2页Physics Teacher

摘　　要：1扫描隧道显微镜的发展概述 在当今的科学技术中,如何观察、测量、分析尺寸小于可见光波长的物体,是一个重要的研究方向.自从1933年德国Ruska和Knoll研制了第一台电子显微镜以来,许多用于表面结构分析的现代仪器相继问世,如透射电子显微镜(transmission electron microscope,TEM)、扫描电子显微镜(scanning electron microscope,SEM)、场离子显微镜(fieldion microscope,FIM)、俄歇电子能谱仪(anger electron spectroscopy,AES)等等,但是,多数技术都无法直接观测物体的微观世界.

关 键 词：扫描隧道显微镜 STM 工作原理 电子显微镜 量子理论 隧道效应 纳米技术 

分 类 号：TH742[机械工程—光学工程]