Blu-Ray DVD芯片的测试挑战  

作　　者：DonBlair KeitaGunji 马朝[2] 

机构地区：[1]不详 [2]安捷伦科技有限公司

出　　处：《半导体技术》2005年第1期i001-i002,共2页Semiconductor Technology

摘　　要：本文介绍挑战高速和高精度混合信号测试需求和测试方案的蓝光DVD单芯片SOC架构，以及量产时缩短测试时间，减少测试成本的方法。

关 键 词：DVD芯片 挑战 量产 需求 混合信号测试 缩短 蓝光DVD 测试成本 单芯片 SOC架构 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学] F407.63