基于ARM嵌入式开发的调试方案  被引量:4

Debug Solution for ARM Embedded Development

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作  者:黄克彬[1] 叶梧[1] 冯穗力[1] 

机构地区:[1]华南理工大学电子通信工程系,广州510640

出  处:《计算机工程》2004年第24期174-176,共3页Computer Engineering

基  金:广东省工业攻关资助项目(2002A1030405)

摘  要:分析和比较了基于Angel的调试系统和基于Multi-ICE的调试系统,给出了分别基于这两种调试系统的ARM嵌入式开发的调试方案,有效地解决了高端嵌入式处理器开发中的调试难点。This paper analyzes and compiles Angel-based debug system and Multi-ICE-based debug system, and advancestwo type of ARM embedded development debug solutions respectively based on these debug systems. These solutions effectively solve the debug difficulties of embedded processor development.

关 键 词:调试 嵌入式系统 ARM ANGEL Multi-ICE 

分 类 号:TP391[自动化与计算机技术—计算机应用技术]

 

参考文献:

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引证文献:

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