双参数指数分布异常数据的检验  

Detection of Outliers from the Two-Parameter Exponential Distribution

作　　者：李云飞[1] 黄继伟[1] 朱宏[1] 

机构地区：[1]电子科技大学应用数学学院,成都610054

出　　处：《电子科技大学学报》2005年第1期127-130,共4页Journal of University of Electronic Science and Technology of China

摘　　要：针对双参数指数分布的异常大数据,给出了一种新的检验方法。寻找到总体参数的具有较好稳健性的估计量,并在此基础上构造出检验统计量,求出了该检验统计量精确的概率密度函数和大样本情形下的近似分布,得到了检验临界值简洁的近似表达式。In this paper, a method of examination for the upper outliers from the two–parameter exponential distribution is discussed. A new test statistic is given. We derive the accurate density function and the approximate distribution of this test statistic.

关 键 词：双参数指数分布 异常数据 次序统计量 分位数 检验统计量 

分 类 号：O212.1[理学—概率论与数理统计] O212.7[理学—数学]