样本容量对子孔径拼接检测精度影响的分析  

Effect of Sampling Number on the Stitching Interferometer

作　　者：董军[1,2] 张蓉竹[1] 蔡邦维[1] 张均[1] 杨毅松[1] 许乔[3] 

机构地区：[1]四川大学电子信息学院 [2]成都精密光学工程研究中心,成都610041 [3]成都精密光学工程研究中心

出　　处：《光学与光电技术》2005年第1期61-64,共4页Optics & Optoelectronic Technology

摘　　要：应用数理统计理论及线性回归分析方法,详细分析了在子孔径拼接检测中样本容量对测量精度的影响。通过计算,确定了当子孔径拼接干涉检测中样本容量大于 104 时,既可保证检测精度,又能减小计算的复杂程度。It discusses the measuring accuracy of the stitching interferometer based on the statistic method, particularly the effect of the sampling number on the accuracy. It presents a new method that can assure the highly measuring accuracy and reduce the complexity of calculation when the sampling number is 104.

关 键 词：子孔径拼接 样本容量 精度 统计理论 

分 类 号：TN247[电子电信—物理电子学]