TFT-LCD屏缺陷检测的研究  

Study of Defect Test for TFT-LCD Panel

作　　者：屈惠明[1] 

机构地区：[1]南京电子器件研究所

出　　处：《光电子技术》1997年第2期102-109,共8页Optoelectronic Technology

摘　　要：分析了国外目前常用几种薄膜晶体管（TFT）有源矩阵液晶显示（AM－LCD）屏的缺陷检测方法的优缺点。深入研究了TFT－LCD屏的结构、缺陷产生的原因和概率，设计了一种能全面、直观地进行TFT－LCD缺陷检测的方法，该方法不仅能检测出TFT－LCD中各种常见的断短路等硬性缺陷并确定其具体位置，而且能根据TFT－LCD屏质量要求对软性缺陷进行判定。The advantages and disadvantages of present defect testing method for TFT-LCD panels is analysed. A new method which can easily test all kinds of defects in TFT-LCD panels is designed.

关 键 词：TFT-LCD 缺陷检测 有源矩阵液晶显示 薄膜晶体管 短路 位置 判定 常见 体位 研究 

分 类 号：TN873[电子电信—信息与通信工程] TN141.9