屈惠明

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彩色显示管粘接面高压击穿研究及改善
《光电子技术》2003年第4期254-256,共3页屈惠明 
阐述了彩色显示管粘接面高压击穿及测试的原理 ,通过生产线和客户反馈的粘接面高压击穿样品调查分析 ,找到了导致不良的根本原因 ,从生产工艺和设备上采取了针对性改善措施 。
关键词:彩色显示管 粘接面 高压击穿 黑底石墨 
7.6cm多色有源矩阵液晶显示器
《光电子技术》1999年第1期23-30,共8页冯治兴 范宁 陈孝仙 唐宗良 陈嵘 王国龙 范荣君 肖玲 屈惠明 
介绍了南京电子器件研究所、华中理工大学和电子部47所三单位联 合研制的7.6cm 240(H)×220(V)单元a-SiTFT-LCD,简要论述了TFT矩阵板、 行列驱动电路、彩色滤色器、液晶盒、高密度柔性引线带、控制引...
关键词:液晶显示器 彩色滤色器 有源矩阵 
TFT-LCD屏缺陷检测的研究被引量:10
《光电子技术》1997年第2期102-109,共8页屈惠明 
分析了国外目前常用几种薄膜晶体管(TFT)有源矩阵液晶显示(AM-LCD)屏的缺陷检测方法的优缺点。深入研究了TFT-LCD屏的结构、缺陷产生的原因和概率,设计了一种能全面、直观地进行TFT-LCD缺陷检测的方法,该方法不仅能检测出TFT-...
关键词:TFT-LCD 缺陷检测 有源矩阵液晶显示 薄膜晶体管 短路 位置 判定 常见 体位 研究 
α-Si TFT的C-V特性研究
《光电子技术》1994年第2期132-137,共6页屈惠明 
通过对 a-Si TFT 的基本工作特性的分析,提出了一种直观的 a-SiTFT 器件模型。基于此模型,采用一种新的方法对 a-Si TFT 的 C-V 特性进行了全面分析。模拟结果与实际测得 a-Si TFT 的 C-V 特性曲线变化趋势一致。
关键词:TFT模型 C-V特性 TFT-LCD 
TFT-LCDs 的缺陷检测和修补技术
《光电子技术》1993年第2期12-21,共10页屈惠明 
概述了 TFT-LCDs 的缺陷分类、成因以及各种 TFT-LCDs 无缺陷技术,着重阐述了 TFT 矩阵板的一种电气缺陷检测原理和确定缺陷类型及位置的方法;介绍了各种缺陷的激光修补技术。
关键词:缺陷检测 缺陷修补 液晶显示器 
液晶显示用 a-Si TFT 有源矩阵制作技术
《光电子技术》1992年第3期217-225,共9页屈惠明 赵伟 
本文通过对液晶显示用α-Si TFT 的工作原理、工作特性分析,讨论了α-Si TFT 有源矩阵结构设计和汇线电阻、电容对α-Si TFT-LCD 的影响。介绍了α-Si TFT 有源矩阵的制作工艺。
关键词:有源矩阵 TFT LCD 液晶 显示器 
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